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芯片檢測顯微圖

來源:www.revamf.com 作者:上海點應光學儀器有限公司 時間:2016-04-01 09:46:13 瀏覽量:

  集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對芯片產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。

 芯片檢測顯微鏡可以幫助我們在IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。

芯片檢測圖

上海點應光學芯片檢測顯微圖

 

上海點應光學芯片檢測顯微圖

 

上海點應光學儀器有限公司芯片半導體檢測顯微圖

 

上海點應光學儀器廠芯片半導體檢測顯微圖

 

上海點應光學芯片半導體檢測圖

 

上海點應光學儀器廠芯片檢測顯微圖

 

上海點應光學儀器芯片半導體檢測圖

 

芯片半導體檢測顯微圖

 

芯片半導體檢測顯微圖



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